
大部分電子組件的濕度試驗強調在元器件表面不要出現凝露,采用如下的技術可防止凝露形成。
一、為什么凝露會發生?
假如樣品溫度低于試驗箱內流動空氣的露點溫度,樣品上將發生冷凝。這樣假設試驗箱內流動空氣的溫度為85℃,相對濕度為85%,空氣的露點為80.9℃,試件表面將產生凝露。因此為了防止凝露,做恒濕試驗之前,要先把樣品溫度升到試驗箱內空氣溫度。
(空氣露點溫度>樣品溫度)→發生凝露
(空氣露點溫度<樣品溫度)→不發生凝露
| 干球溫度 | 相對濕度(R.H) | 露點溫度 ( ℃ ) |
| 60 | 85 | 56.5 |
| 70 | 85 | 66.3 |
| 90 | 67.7 | |
| 85 | 85 | 80.9 |
| 90 | 82.3 |
二、防止樣品表面凝露程序示例
使用以下方式(防止樣品表面凝露程序示例圖)可防止樣品表面凝露。本例程序的溫度為85℃、相對濕度為85%。
在第2步程序中把溫度升高到85℃,假設濕度也升到85%RH,樣品溫度可能保持低于凝露點,樣品表面將產生凝露,因此本程序僅僅是把溫度控制在85℃。第二步程序的長度,將按照樣品熱容量變化而變化,目的是保證有足夠的時間使試驗箱內溫度穩定在85℃。
第二步試驗箱在設定溫度85℃,濕度85%RH的程序,在這一步雖然濕度控制剛開始,但樣品溫度已達85℃,將不會產生凝露。
